原子力显微镜的应用领域及功能是什么？ 原子力显微镜的优点
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光学显微镜的结构及作用
1、普通光学显微镜的构造主要分为三部分：机械部分、照明部分和光学部分。机械部分的作用是外部帮助固定和调节，照明部分的作用是在镜台下方帮助呈像，光学部分的作用是根据需要观察使用。
2、结构为：机械部分：镜座、镜柱、镜臂、镜筒、粗调节器(粗准焦螺旋)、细调节器(细准焦螺旋)、转换器、载物台、通光孔、弹簧夹片，照明部分：反光镜(平面镜和凹面镜)、聚光器、光圈，光学部分：目镜、物镜。
3、）镜座：镜座是显微镜的基本支架，它由底座和镜臂两部分组成。在它上面连接有载物台和镜筒，它是用来安装光学放大系统部件的基础。底座和镜臂起稳定和支撑整个显微镜的作用。
4、光学部分：目镜(眼睛观察的地方)、物镜(位于玻片上方，放大玻片)、反光镜(用来对光)。
科研常用的几种显微镜原理及应用介绍
1、偏光显微镜（Polarizing microscope）是用于研究所谓透明与不透明各向异性材料的一种显微镜，在地质学等理工科专业中有重要应用。光学显微镜通常皆由光学部分、照明部分和机械部分组成。
2、基本原理： 其基本原理是基于量子力学的隧道效应和三维扫描。它是用一个极细的尖针，针尖头部为单个原子去接近样品表面，当针尖和样品表面靠得很近，即小于１纳米时，针尖头部的原子和样品表面原子的电子云发生重叠。
3、显微镜以显微原理进行分类可分为偏光显微镜、光学显微镜与电子显微镜和数码显微镜。偏光显微镜（Polarizingmicroscope）是用于研究所谓透明与不透明各向异性材料的一种显微镜，在地质学等理工科专业中有重要应用。
原子力显微镜探针的显微镜由来
1、最早的显微镜是16世纪末期在荷兰制造出来的。发明者是亚斯·詹森，荷兰眼镜商。显微镜是由一个透镜或几个透镜的组合构成的一种光学仪器，是人类进入原子时代的标志。主要用于放大微小物体成为人的肉眼所能看到的仪器。
2、Lebedeff(莱比戴卫)：设计并搭配第一架干涉显微镜。另外由Zernicke(卓尼柯)在1932年发明出相位差显微镜，两人将传统光学显微镜延伸发展出来的相位差观察使生物学家得以观察染色活细胞上的种种细节。
3、最早的显微镜是16世纪末期在荷兰制造出来的。发明者是亚斯·詹森，荷兰眼镜商，或者另一位荷兰科学家汉斯·利珀希，他们用两片透镜制作了简易的显微镜，但并没有用这些仪器做过任何重要的观察。
4、原子力显微镜（Atomic Force Microscope，缩写为AFM）是1986年问世的一种以隧道效应为理论基础的显微镜，是扫描探针显微镜家族中的重要成员。
5、原子力显微镜利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体，也可以观察非导体，从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。
原子力显微镜在纳米技术中的应用
原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。选择原子力显微镜推荐Park NX-Hybrid WLI。
原子力显微镜刻画技术是利用AFM探针针尖与样品之间的相互作用力，在样品表面刮擦产生纳米尺度的结构。AFM刻画技术要求针尖要极其细小、材料刚硬度要足够大，才能保证操作时不会严重磨损。选择原子力显微镜推荐Park的FX40。
可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。如果想要挑选原子力显微镜，可以考虑Park原子力显微镜的Park X20。原子力显微镜是显微镜中的一种类型，应用范围十分广泛。
原子力显微镜的原理及其应用
原子力显微镜是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。
原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。
工作原理 利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。由于原子力显微镜既可以观察导体，也可以观察非导体，从而弥补了扫描隧道显微镜的不足。
原子力显微镜
1、原子力显微镜和扫描电镜的异同点：共同点：都是放大。不同点：1）、原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。
2、原子力显微镜（Atomic Force Microscope，缩写为AFM）是1986年问世的一种以隧道效应为理论基础的显微镜，是扫描探针显微镜家族中的重要成员。
3、原子力显微镜是以扫描隧道显微镜基本原理发展起来的扫描探针显微镜。原子力显微镜的出现无疑为纳米科技的发展起到了推动作用。
4、电子显微镜需要运行在高真空条件下，原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子，甚至是活的生物组织。它的的缺点在于成像范围太小，速度慢，受探头的影响太大。